测量原理：
光学热膨胀仪采用阴影光的方法进行样品测定。通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的绝对尺寸的大小。高强度的LED光束发出平面光，通过一个扩散单元和准直透镜，产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理，并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度，进而测定样品的尺寸。
光学热膨胀仪测量的温度范围从室温至1400℃，分辨率50nm、0.1℃，样品长度0.3~30mm，最大高度10mm，最高升温速率100℃/min，并能在10min内从1400℃冷却至50℃。DIL 806不仅能在空气中分析样品，还能在真空和惰性气体中进行分析。
与传统膨胀仪相比，光学热膨胀仪采用聚焦LED光束，样品的平面性及表面粗糙度不会对测量精度造成显著影响，这样能够显著简化样品制备过程。仪器使用非接触式测量，允许样品自由膨胀及收缩，不会受到机械接触引起的干扰。
非接触式测量的优越性分析：
因为没有直接施加负载到样品上，因此即便是最柔软的材料也可以获得最高的测量精度。
包括薄膜，或质地柔软测量或在实验过程中发生软化的材料。
由于与测量系统无物理接触，进一步提高了温度均匀性。顶杆可以作为散热件，在与样品接触点处产生热点或冷点。而DIL806是没有
这些接触点，确保了整个样品在整个实验过程中温度的均匀，无需考虑实验中的温度分布。
广泛的测量面积大大简化了样品位置。仪器的测量面积，宽30毫米，在这个范围内的任何位置放置样品，仪器均能表现出优异的工作
性能。这样就简化了样品装载，去除样品位置的严格限制。
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