传统测向体制的测向算法主要针对特定频率上的单一信号来源，当对应频率上出现同频发射时，会使测向效果受到影响甚至无法得到正确可靠的测向结果。而在现实情况下，多个信号同频发射的情况可存在于不同场景。为适应同频发射源测向定位、干扰排查等监测工作的实际需求，R&S公司通过在多通道测向机上运用超分辨率技术，成功地实现对多个同频信号同时进行测向的能力。
通过超分辨率算法，测向机可精确计算出来自不同方向的多个同频信号的示向度、电平值和测向质量。超分辨率技术具备辨识5个以上信号来波方向的能力，在实际应用中，可根据测向质量自动优选出5个最大可能的来波方向。超分辨率技术可根据具体情况，由测向机自动计算或手动设置入射信号的来波数目。
此外，实际测量的来波数目还与同频分布的多个信号的相对电平大小、信号质量（信噪比）、空间分布（入射夹角）等因素相关。在使用测向机对发射源进行测向过程中，当出现测向结果剧烈抖动同时伴随较低测向质量的情形时，应怀疑是否在相应频率存在多个同频信号发射源。此时，可通过R&S DDFControl软件从测向机的常规测向模式（相关干涉仪体制）切换至超分辨率测向模式，从而对测向结果进行深入分析。
目前，R&S主要在三通道数字测向机DDF5GTS和九通道短波数字测向机DDF1GTX上支持超分辨率测向功能。当需要运行超分辨率测向功能时，测向机需要连接与之匹配的型号为ADDxxxSR的测向天线，如ADD153SR、ADD050SR、ADD078SR、ADD011SR、ADD011SRX等。
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