上海
证券之星消息，根据企查查数据显示道氏技术（300409）新获得一项发明专利授权，专利名为“基于多层特征提取的抛光砖瑕疵检测方法及相关设备”，专利申请号为CN202011496299.6，授权日为2024年2月20日。
专利摘要：本发明公开了基于多层特征提取的抛光砖瑕疵检测方法及相关设备，该方法包括：在预设的环境条件下，采集待检测抛光砖的第一图像；将第一图像输入到训练好的识别网络模型；获取识别网络模型的输出，作为待检测抛光砖的瑕疵类型；识别网络模型包括用于对输入到识别网络模型的图像提取深层特征的特征提取子网络和用于对特征提取子网络提取获得的深层特征进行识别判定的识别子网络，特征提取子网络采用特征金字塔形式和多层特征提取方法对输入图像进行深层特征提取，识别子网络采用注意力机制进行工作。本发明可以实现对抛光砖瑕疵类型的自动识别，提高瑕疵类型识别精度，且自动化程度高，具有较高的自动检测效率，可广泛应用于抛光砖生产行业中。
今年以来道氏技术新获得专利授权1个。结合公司2023年中报财务数据，2023上半年公司在研发方面投入了1.18亿元，同比减13.35%。
数据来源：企查查
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