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金融界2024年11月18日消息，国家知识产权局信息显示，南京行星级电子科技有限公司取得一项名为“一种用于芯片逆向版图提取的尺寸测量装置”的专利，授权公告号CN 222012953 U，申请日期为2024年5月。
专利摘要显示，本实用新型涉及测量装置领域，具体公开了一种用于芯片逆向版图提取的尺寸测量装置，包括：安装架，安装架的两侧相邻的内壁固定连接有放置板，安装架的一侧内壁开设有第一滑槽；实际使用时，将电路板的两端搭放在放置板上，后用手滑动第一调节杆和第二调节杆，同时调节块带动调节套在调节槽中进行滑动，限位块带动螺杆在限位槽中进行滑动，直至调节杆的两侧外壁和电路板的两侧抵住，后转动调节套使防滑垫和第二调节杆的上方抵接完成定位，此时便可进行读刻度对尺寸进行测量，测量精度更高的同时可以一次性直接对电路板的侧边进行测量。
本文源自：金融界
作者：情报员
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