北京
分享至
金融界2024年11月27日消息，国家知识产权局信息显示，苏州通富超威半导体有限公司取得一项名为“用于同轴测试插座的探针短路测试仪及测试系统”的专利，授权公告号CN 222050413 U，申请日期为2024年3月。
专利摘要显示，本公开实施例提供一种用于同轴测试插座的探针短路测试仪及测试系统，该测试仪包括底座和测试板，测试板固定于底座，测试板具有绝缘区域和测试区域；在测试同轴测试插座时，将同轴测试插座放置于测试板，绝缘区域用于与多个接地针相对应并相接触，测试区域用于与多个电源针和多个信号针相对应并相接触。采用该测试仪可以快速检测出探针之间是否有短路，减少因探针短路导致的产品缺陷，增加芯片测试良率，提高测试插座的质量，易于操作人员学习和操作，该测试仪可以适用于所有同轴检测插座，应用广泛。
本文源自：金融界
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
