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金融界2024年11月27日消息，国家知识产权局信息显示，江苏优众微纳半导体科技有限公司申请一项名为“一种电子芯片电性能测试系统、方法及存储介质”的专利，公开号CN 119024143 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种电子芯片电性能测试系统、方法及存储介质，涉及芯片电性能测试技术领域，解决了现有技术中，不能够根据实时测试参数特性分析，无法进行实时程序编写的技术问题，具体为根据测试参数的参数特性分析，得出测试参数的测试顺序以及测试参数类型编入测试程序，测试程序在进行测试设备控制时以当前程序编写内容进行测试执行，以保证测试过程中芯片测试参数执行合格，在原设定基础上进行程序编写添加，提高测试过程的准确性，降低电参数之间的影响；待测试芯片进行电参数分析和功能测试分析，并推断待测试芯片性能是否合格，根据电参数分析，即电压电流，功能测试分析，即时钟频率，进行实时数据采集分析。
本文源自：金融界
作者：情报员
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