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金融界2024年12月25日消息，国家知识产权局信息显示，上海孤波科技有限公司申请一项名为“芯片测试数据分析图表确定方法、装置、电子设备及介质”的专利，公开号 CN 119169147 A，申请日期为2024年8月。
专利摘要显示，本申请提供芯片测试数据分析图表确定方法、装置、电子设备及介质，方法应用于芯片硅后验证设备，包括：响应针对分析图表配置界面的点击操作，获取待处理芯片测试数据；响应选择操作，跳转至目标图表类型的统计规则配置界面；响应测试项目、测试条件、聚合运算方式的选择操作以及测试条件范围筛选表达式的输入操作，生成在目标图表类型图表中的统计规则；跳转回分析图表配置界面，响应点击操作，基于待处理芯片测试数据以及统计规则确定待处理芯片测试数据目标图表类型的芯片测试数据分析图表。这样，基于用户配置自动生成的统计规则自动生成芯片测试数据分析图表，提高了芯片测试数据分析图表生成效率，进而提高了芯片测试结果统计分析效率。
本文源自：金融界
作者：情报员
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